插頭連接器之類的電子元器件的尺寸越來(lái)越小，這對(duì)制造業(yè)提出了更大的挑戰(zhàn)。ERNI 電子采用三維數(shù)控多傳感器測(cè)量設(shè)備來(lái)確保其制造工藝，其中一臺(tái)設(shè)備帶有 X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)。 現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)能夠快速地實(shí)現(xiàn)工藝驗(yàn)證。

ERNI 電子引入了“*生產(chǎn)“技術(shù)。該公司在斯圖加特附近的阿德?tīng)栘惛裆a(chǎn)大量各種電路板連接器和 I / O 插頭連接器，背板，連接器電纜，外殼，系統(tǒng)和工具。許多產(chǎn)品通過(guò)供應(yīng)商進(jìn)入汽車工業(yè)領(lǐng)域，在那里要求已安裝的組件具有特別高的品質(zhì)。

因此，質(zhì)保部的配套設(shè)施是十分專業(yè)的。在測(cè)量實(shí)驗(yàn)室里，除了各種三維數(shù)控多傳感器測(cè)量機(jī)以外，還有一臺(tái)帶有 X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描傳感器的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM） 。為了讓工人能夠迅速檢查他們的工作成果，在生產(chǎn)車間里安置了一臺(tái)復(fù)合式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

質(zhì)量管理部負(fù)責(zé)人 Oliver Jehlitschke 解釋說(shuō)：“汽車工業(yè)總是希望增加電路板的封裝密度。這意味著，我們要不斷開(kāi)發(fā)更小的插頭連接器。因此，我們必須不斷調(diào)整生產(chǎn)和測(cè)量條件。”

他所在部門的長(zhǎng)期指導(dǎo)者和合作伙伴是WERTH。這個(gè)位于吉森的公司是現(xiàn)代三坐標(biāo)測(cè)量界的供應(yīng)商。其專門從事生產(chǎn)帶有光學(xué)傳感器和 X 射線斷層掃描技術(shù)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，以及復(fù)合式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。早在 1996 年， ERNI 就引進(jìn)了一臺(tái)緊湊型設(shè)備 VideoCheck IP 250，用于插頭連接器、外殼和打孔帶的光學(xué)測(cè)量。如今，它已被一臺(tái)更新、更準(zhǔn)確的同類型測(cè)量機(jī)所替代。對(duì)于較大的零件， ERNI 在 1999 年投入使用了 VideoCheckFB 固定橋式測(cè)量機(jī)，它的測(cè)量范圍是 400×400×200mm。它配備了遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭，以及獲得的Werth 光纖探針和傳統(tǒng)的 3D 觸發(fā)式探針。

計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)使三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)更加完善

ERNI 測(cè)量實(shí)驗(yàn)室的一大亮點(diǎn)是自 2008 年以來(lái)就被投入使用的 Werth TomoScope® HV Compact。該三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)利用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，在不接觸零件的情況下，分析或測(cè)量零件，且測(cè)量精度為微米級(jí)。

其工作原理如下：首先，在不同的旋轉(zhuǎn)位置拍攝測(cè)量對(duì)象的透射圖像。然后，通過(guò)軟件將所以的單張圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，創(chuàng)建一個(gè)三維立體圖像，用來(lái)描述整個(gè)零件內(nèi)部和外部的幾何形狀。測(cè)量技術(shù)員Rüdiger Teufel 解釋道：“我們使用TomoScope®測(cè)量所有的空外殼和一些包含了公母端子的裝配插頭。我們的掐絲打孔帶也可以用 TomoScope®來(lái)測(cè)量。”

對(duì)未來(lái)技術(shù)投資的主要原因是為了贏得工藝制造的時(shí)間。運(yùn)用三維模型和斷層掃描技術(shù)生成的三維數(shù)據(jù)的理論-實(shí)際比對(duì)，通過(guò)彩色編碼顯示測(cè)量數(shù)據(jù)和理論值偏差。這樣可以幫助快速確認(rèn)，比如，塑料在注塑過(guò)程中是否在模具中正確分布。根據(jù)結(jié)果，可以對(duì)模具及注塑參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，直到達(dá)到工藝要求。質(zhì)量部負(fù)責(zé)人Jehlitschke 介紹說(shuō)：”我們要求外殼及其配套的打孔帶都滿足工藝指數(shù)Cp=1.67。“

固定橋式測(cè)量機(jī)裝有遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭以及一個(gè)光纖探針和一個(gè)傳統(tǒng)的觸發(fā)式探針。

Rüdiger Teufel 和他的同事使用 TomoScope®進(jìn)行微米級(jí)高精度測(cè)量：“ 舉個(gè)例子， 我們對(duì)外殼的首檢都是在 TomoScope®上進(jìn)行的。我可以對(duì)零件掃描，在幾分鐘內(nèi)就能得到三維幾何點(diǎn)云數(shù)據(jù)用于分析。零件的內(nèi)部尺寸，如腔室，也將被測(cè)量。以前，我們必須進(jìn)行切割、加工和拋光后才能得到橫截面，現(xiàn)在，我們只要按一下按鈕即可從點(diǎn)云中得到橫截面圖像。這節(jié)省了大量的時(shí)間。其次，可以任意移動(dòng)截面位置。”

可靠的共面測(cè)量

在 2015 年上半年， ERNI 測(cè)量實(shí)驗(yàn)室獲得了另一臺(tái)Werth VideoCheck®S 400 型號(hào)三維數(shù)控多傳感器測(cè)量機(jī)。它配備了的傳感器，例如色差傳感器（CFP） 和面焦點(diǎn)變化傳感器 Werth 3D-Patch。Oliver Jehlitschke 說(shuō)明了投資的原因：“連接插頭連接器和電路板的焊盤必須在一個(gè)公差很小的平面上，防止在之后的焊接過(guò)程中產(chǎn)生缺陷。我們通過(guò)對(duì)所有焊接點(diǎn)進(jìn)行共面測(cè)量來(lái)判斷是否達(dá)標(biāo)。”

一個(gè)特別的挑戰(zhàn)是，從插頭連接器突出的插針會(huì)在裝配后被彎曲 90° 。這意味著，彎曲角度和焊盤的位置可能會(huì)稍有不同。由于塑料外殼的變形和收縮，插頭連接器越長(zhǎng)，就越難避免誤差。目前，這種測(cè)量任務(wù)主要是用于制造工序中的質(zhì)量保證。為此，生產(chǎn)自動(dòng)化系統(tǒng)中的一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)使用三角測(cè)量激光來(lái)測(cè)量高度。根據(jù)生產(chǎn)需要，這種方法是非常快的，但其度遠(yuǎn)遠(yuǎn)不如 Werth VideoCheck®測(cè)量機(jī)，該機(jī)在測(cè)量實(shí)驗(yàn)室提供參考測(cè)量和更高的工藝保障。

Rüdiger Teufel 解釋說(shuō)：“我們對(duì)我們配備有Werth 3D-Patch 和 CFP 的VideoCheck®S 400 十分有信心。它具有的數(shù)碼相機(jī)術(shù)，Werth HiCam，是實(shí)現(xiàn)對(duì)比聚焦法的*保障。

無(wú)需特殊夾具， X 射線計(jì)算機(jī)斷層掃描三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)就能測(cè)量各種零件。

表面形貌測(cè)量

Werth 3D-Patch 的工作原理：只移動(dòng)相機(jī)的軸，類似自動(dòng)聚焦的連續(xù)拍照。圖像中zui大對(duì)比度的像素被計(jì)算出來(lái)。圖像棧內(nèi)的對(duì)比度zui大值被定義為測(cè)量點(diǎn)，用于描述三維零件的表面。通過(guò)新的申請(qǐng)中的焦點(diǎn)變化法，能夠在更大的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)測(cè)量表面形貌。同一測(cè)量對(duì)象的黑暗和明亮區(qū)域可以在*照明下被同時(shí)捕捉到，由此計(jì)算出點(diǎn)云。然后，各個(gè)插針的zui高點(diǎn)可以被確定。并由此來(lái)定義一個(gè)接觸面。這樣可以模擬焊接前的零件定位，以及焊盤彼此之間的距離。

色差傳感器提供了另一種測(cè)量方法。這是一種一維距離傳感器，當(dāng)加工軸在零件上方移動(dòng)時(shí)，它可以獲取掃描線。然后， 據(jù)這些掃描線計(jì)算和評(píng)價(jià)點(diǎn)云。由于其物理性質(zhì)，該方法尤其適用于測(cè)量光面和反光材料。

Oliver Jehlitschke 是這樣解釋 ERNI 多次選擇 Werth測(cè)量技術(shù)的：“首先，Werth 測(cè)量機(jī)能夠提供連續(xù)的高精度測(cè)量。我多年以來(lái)的經(jīng)驗(yàn)可以證實(shí)這一點(diǎn)。其次， Werth 給市場(chǎng)帶來(lái)的技術(shù)總是*成熟和可靠的。zui后，我們的工作關(guān)系非常好，無(wú)論是在服務(wù)還是在應(yīng)用支持方面，特別是新技術(shù) 。

ERNI 的質(zhì)量管理部門負(fù)責(zé)人 Oliver Jehlitschke（左）正在與經(jīng)驗(yàn)豐富的測(cè)量技
術(shù)員 Rüdiger Teufel 討論重要的檢測(cè)特征。